现行有效国家标准电子元器件与信息技术

GB/T 4937.40-2025

半导体器件机械和气候试验方法第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 40: Board level drop test method using a strain gauge

🔬 标准体检与查新报告

正式发布日期

2025-12-31

正式实施日期

2026-07-01

中国标准分类号 (CCS)

L40

国际标准分类号 (ICS)

31.080.0131

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门工业和信息化部（电子）

归口技术委员会全国半导体器件标准化技术委员会

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、河北工诺检测技术有限公司、深圳市金泰克半导体有限公司、合肥德宽信息技术有限责任公司、广州海关技术中心、安徽高芯众科半导体有限公司、湖北华远检测技术有限公司。

主要起草人员赵海龙、聂丛伟、李创锋、彭浩、高东阳、张魁、尹丽晶、冉红雷、王英程、李敏、顾小平、黄伟、辛长林、宁仁祥、唐力、朱玉珂。

国际标准采标情况 IEC 60749-40:2011 (IDT (等同采用))

最后同步校验时间 2026-10-01

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GB/T 4937.40-2025 现行

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半导体器件机械和气候试验方法第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法

正式发布：2025-12-31 实施施行：2026-07-01

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