现行有效
国家标准
电子元器件与信息技术
GB/T 4937.41-2026
半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41：Test method for reliability of non-volatile memory devices
正式发布日期
2026-02-27
正式实施日期
2026-09-01
中国标准分类号 (CCS)
L40
国际标准分类号 (ICS)
31.080.0131
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部（电子）
归口技术委员会
全国半导体器件标准化技术委员会
主要起草单位
中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子技术标准化研究院、河北北芯半导体科技有限公司、电子科技大学、南京航空航天大学、得一微电子股份有限公司、华东师范大学、中国电子科技集团公司第三十二研究所、上海贝岭股份有限公司、成都振芯科技股份有限公司、浙江驰拓科技有限公司、深圳市源微创新实业有限公司、珠海妙存科技有限公司、中绍宣标准化服务（山东）有限公司、深圳市迈迪杰电子科技有限公司。
主要起草人员
常艳昭、宋国栋、郭晓宇、解维坤、张凯虹、王建超、陈诚、韩先虎、顾玉娣、季伟伟、冯佳、万永康、虞勇坚、吕栋、路金朋、印琴、张猛华、奚留华、杨霄垒、吴晨烨、李秋枫、秦虎、郝香池、鹿祥宾、张肖、颜佳辉、杨少华、李锟、席善斌、张欢、戴志坚、张颖、陈鑫、吴大畏、廉鹏飞、付仲满、李刚、徐中国、任秋萍、鲁鹏棋、鲍斌、赖鼐、左仲元、黄如金。
国际标准采标情况
IEC 60749-41:2020 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间
2026-10-01
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/T 4937.41-2026
现行
● 现行有效版本 (当前页面)
半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法
正式发布：2026-02-27
实施施行：2026-09-01
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