现行有效国家标准电子元器件与信息技术

GB/T 4937.10-2025

半导体器件机械和气候试验方法第10部分：机械冲击器件和组件

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 10: Mechanical shock—Device and subassembly

🔬 标准体检与查新报告

正式发布日期

2025-12-31

正式实施日期

2026-07-01

中国标准分类号 (CCS)

L40

国际标准分类号 (ICS)

31.080.0131

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门工业和信息化部（电子）

归口技术委员会全国半导体器件标准化技术委员会

主要起草单位中国电子技术标准化研究院、深圳华海达科技有限公司、广州市爱浦电子科技有限公司、广东力德诺电子科技有限公司、苏州海光芯创光电科技股份有限公司、东莞市科佳电路有限公司、江西鸿利光电有限公司。

主要起草人员王琪、谢宝琳、王爽、薛涛、梁旦新、胡朝阳、廖发盆、李义园。

国际标准采标情况 IEC 60749-10:2022 (IDT (等同采用))

最后同步校验时间 2026-10-01

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GB/T 4937.10-2025 现行

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半导体器件机械和气候试验方法第10部分：机械冲击器件和组件

正式发布：2025-12-31 实施施行：2026-07-01

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