现行有效
国家标准
电子元器件与信息技术
GB/T 4937.38-2025
半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
正式发布日期
2025-12-02
正式实施日期
2026-07-01
中国标准分类号 (CCS)
L40
国际标准分类号 (ICS)
31.080.0131
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部（电子）
归口技术委员会
全国半导体器件标准化技术委员会
主要起草单位
工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、安徽一天电气技术股份有限公司、安徽钜芯半导体科技股份有限公司。
主要起草人员
雷志锋、彭超、黄云、何玉娟、张战刚、何凡、付青琴、恩云飞、来萍、余银钢、曹孙根。
国际标准采标情况
IEC 60749-38:2008 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间
2026-10-01
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/T 4937.38-2025
现行
● 现行有效版本 (当前页面)
半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
正式发布：2025-12-02
实施施行：2026-07-01
🎯 同类及相似标准智能推荐矩阵
基于中国标准分类号(CCS)、国际标准分类号(ICS)及归口技术领域的深度关联推荐
GB/T 4937.201-2026
即将实施
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现行
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现行
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同系列分部家族主干号: GB/T 4937
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现行
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现行
半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法
同系列分部家族主干号: GB/T 4937
匹配度 92%