现行有效
国家标准
电子元器件与信息技术
GB/T 44937.3-2025
集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 3: Measurement of radiated emissions—Surface scan method
正式发布日期
2025-12-31
正式实施日期
2026-07-01
中国标准分类号 (CCS)
L56
国际标准分类号 (ICS)
31.20031
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部（电子）
归口技术委员会
全国集成电路标准化技术委员会
主要起草单位
中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、海研芯（青岛）微电子有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、中国合格评定国家认可中心、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、浙江大学、南京容向测试设备有限公司、北京航空航天大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中山大学、深圳市中兴微电子技术有限公司、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、江苏省质量和标准化研究院、中国信息通信研究院、南京师范大学、中家院（北京）检测认证有限公司、深圳硅山技术有限公司。
主要起草人员
崔强、龙跃、付君、阎照文、褚瑞、方文啸、吴建飞、杨红波、王新才、朱赛、张学磊、陈梅双、刘佳、梁吉明、邵伟恒、魏兴昌、沈学其、雷黎丽、龙发明、谢利涛、杨博、王紫任、颜伟、王芳、韦寿德。
国际标准采标情况
IEC TS 61967-3:2014 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间
2026-10-01
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/T 44937.3-2025
现行
● 现行有效版本 (当前页面)
集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法
正式发布：2025-12-31
实施施行：2026-07-01
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即将实施
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相同专业CCS分类分类号: L56
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