追标
【GB/T 44937.2-2025】集成电路 电磁发射测量 第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法
追标Logo
追标
现行有效 国家标准 电子元器件与信息技术

GB/T 44937.2-2025

集成电路 电磁发射测量 第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 2: Measurement of radiated emissions—TEM cell and wideband TEM cell method
🔬 标准体检与查新报告
正式发布日期
2025-12-31
正式实施日期
2026-07-01
中国标准分类号 (CCS)
L56
国际标准分类号 (ICS)
31.20031

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门 工业和信息化部(电子)
归口技术委员会 全国集成电路标准化技术委员会
主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、浙江诺益科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、海研芯(青岛)微电子有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、中山大学、苏州泰思特电子科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中汽研新能源汽车检验中心(天津)有限公司、中国家用电器研究院、南京信息工程大学、广州赛宝计量检测中心服务有限公司、海军电磁兼容研究检测中心、中国合格评定国家认可中心、福州物联网开放实验室有限公司、极氪汽车(宁波杭州湾新区)有限公司、中国北方车辆研究所、中国信息通信研究院、合兴汽车电子(太仓)有限公司、深圳市必联电子有限公司、中航光电科技股份有限公司、柳州汽车检测有限公司、重庆新民康科技优先公司、拢泽(上海)技术有限公司。
主要起草人员 郑益民、崔强、付君、黄雪梅、吴建飞、方文啸、朱赛、张治中、胡小军、李焕然、符荣杰、王新才、梁吉明、褚瑞、李齐、菅端端、张洁、谭泽强、亓新、陈彦、张勇、刘佳、赖秋晖、朱崇铭、赵骥、王紫任、李旺、刘海涛、郭辉、张吉宇、陈小勇、鲍宇航。
国际标准采标情况 IEC 61967-2:2005 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间 2026-10-01

🕸️ 知识图谱与标准拓扑关系网

深度涵盖:代际演变替代、同系列分部关联、归口技术委员会同门研制及国际对标

10 节点 14 连线
🔒

知识图谱与拓扑关系需登录查看

深度涵盖代际演变替代、同系列分部关联、归口主管研制及国际对标。登录账号即可免费解锁完整力导向交互网络与节点穿梭。

10 实体节点 14 关联拓扑
免费注册 / 微信扫码一键登录

⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴

自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条

共 1 个代际版本
GB/T 44937.2-2025 现行
● 现行有效版本 (当前页面)
集成电路 电磁发射测量 第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法
正式发布:2025-12-31 实施施行:2026-07-01

🎯 同类及相似标准智能推荐矩阵

基于中国标准分类号(CCS)、国际标准分类号(ICS)及归口技术领域的深度关联推荐

相关度优先