现行有效
国家标准
电子元器件与信息技术
GB/T 44937.8-2025
集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 IC带状线法
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 8: Measurement of radiated emissions—IC stripeline method
正式发布日期
2025-12-31
正式实施日期
2026-07-01
中国标准分类号 (CCS)
L56
国际标准分类号 (ICS)
31.20031
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部(电子)
归口技术委员会
全国集成电路标准化技术委员会
主要起草单位
中国电子技术标准化研究院、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、海研芯(青岛)微电子有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、浙江诺益科技有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、中山大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、上海机动车检测认证技术研究中心有限公司、北京无线电计量测试研究所、天津大学、中国信息通信研究院、长沙芯连心智慧系统有限责任公司、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、广州广电计量检测(上海)有限公司、思科系统(中国)研发有限公司、福州物联网开放实验室有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、中家院(北京)检测认证有限公司、中国合格评定国家认可中心、亚锐檀桐检测技术(上海)有限公司、国网电力科学研究院有限公司。
主要起草人员
付君、崔强、靳冬、吴建飞、乔磊、王新才、方文啸、朱赛、徐蛟、叶畅、梁吉明、李楠、褚瑞、黄雪梅、郑益民、陈梅双、龙发明、吴倩、王晓迪、刘星汛、臧琦、王紫任、李彦鹏、冯星辉、江峰、楼建全、赖秋辉、连恒兴、焦璨、刘佳、邓勇、鞠文静。
国际标准采标情况
IEC 61967-8:2023 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间
2026-10-01
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自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/T 44937.8-2025
现行
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集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 IC带状线法
正式发布:2025-12-31
实施施行:2026-07-01
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即将实施
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相同专业CCS分类分类号: L56
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