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【GB/T 15879.603-2026】半导体器件的机械标准化 第6-3部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 四边扁平封装(QFP)的尺寸测量方法
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即将正式实施提醒

该标准将于 2027-02-01 起正式施行,距离生效尚有 123 天。建议相关企业及实验室尽早开展标准宣贯与合规调整。

即将实施 国家标准 电子元器件与信息技术

GB/T 15879.603-2026

半导体器件的机械标准化 第6-3部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 四边扁平封装(QFP)的尺寸测量方法
Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 6-3: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages—Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP)
🔬 标准体检与查新报告
正式发布日期
2026-07-30
正式实施日期
2027-02-01
中国标准分类号 (CCS)
L55
国际标准分类号 (ICS)
31.080.0131

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门 工业和信息化部(电子)
归口技术委员会 全国集成电路标准化技术委员会
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子技术标准化研究院、天水七四九电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、合肥圣达电子科技实业有限公司、河北中瓷电子科技股份有限公司、江西芯诚微电子有限公司、深圳市振华兴智能技术有限公司。
主要起草人员 范世超、彭博、郎平、钟鑫、王琪、李习周、帅喆、黄志刚、赵东亮、肖国庆、徐凯。
国际标准采标情况 IEC 60191-6-3:2000 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间 2026-10-01

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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴

自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条

共 1 个代际版本
GB/T 15879.603-2026 即将实施
● 现行有效版本 (当前页面)
半导体器件的机械标准化 第6-3部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 四边扁平封装(QFP)的尺寸测量方法
正式发布:2026-07-30 实施施行:2027-02-01

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