现行有效
国家标准
电子元器件与信息技术
GB/T 4937.24-2025
半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿 无偏置强加速应力试验
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 24: Accelerated moisture resistance—Unbiased HAST
正式发布日期
2025-12-02
正式实施日期
2026-07-01
中国标准分类号 (CCS)
L40
国际标准分类号 (ICS)
31.080.0131
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部(电子)
归口技术委员会
全国半导体器件标准化技术委员会
主要起草单位
中国电子科技集团公司第五十五研究所。
主要起草人员
包雷、佘茜玮、吴维丽、王瑞曾、陈雷、胡宁。
国际标准采标情况
IEC 60749-24:2004 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间
2026-09-30
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/T 4937.24-2025
现行
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半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿 无偏置强加速应力试验
正式发布:2025-12-02
实施施行:2026-07-01
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复合特征契合 [半导体器]领域主题契合 [半导]
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GB/T 4937.37-2025
现行
半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分:采用加速度计的板级跌落试验方法
复合特征契合 [半导体器]领域主题契合 [半导]
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GB/T 4937.39-2025
现行
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复合特征契合 [半导体器]领域主题契合 [半导]
匹配度 165%
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现行
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复合特征契合 [半导体器]领域主题契合 [半导]
匹配度 165%
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复合特征契合 [半导体器]领域主题契合 [半导]
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复合特征契合 [半导体器]领域主题契合 [半导]
匹配度 165%
