现行有效国家标准电子元器件与信息技术

GB/Z 107-2025

半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估

Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

🔬 标准体检与查新报告

正式发布日期

2025-12-03

正式实施日期

2025-12-03

中国标准分类号 (CCS)

L40

国际标准分类号 (ICS)

31.080.0131

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门工业和信息化部（电子）

归口技术委员会全国半导体器件标准化技术委员会

主要起草单位中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、西安卫光科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司。

主要起草人员万永康、何静、虞勇坚、季伟伟、宋国栋、帅喆、凌勇、印琴、张凯虹、李锟、贺致远、李德建、李飞、常婷婷、苏卡。

国际标准采标情况 IEC TR 63133:2017 (IDT (等同采用))

最后同步校验时间 2026-10-01

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GB/Z 107-2025 现行

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半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估

正式发布：2025-12-03 实施施行：2025-12-03

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