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标准已废止或失效
该标准经主管部门通报已作废或停止执行，请核实最新标准代号以确保合规。
已废止/被代替
地方标准
信息传输、软件和信息技术服务业
DB35/T 1370-2013
发光二极管芯片点测方法
正式发布日期
2013-12-04
正式实施日期
2014-03-01
中国标准分类号 (CCS)
L45
国际标准分类号 (ICS)
31.260
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
福建省质量技术监督局
归口技术委员会
省信息化局
主要起草单位
厦门市三安光电科技有限公司、厦门市产品质量监督检验院、福建省光电行业协会、国家半导体发光器件（LED）应用产品质量监督检验中心
主要起草人员
蔡伟智、梁奋、李国煌、吕艳、时军朋、葛莉荭、黄松金、刘毅清、陈涛、兰国政
国际标准采标情况
自主编制，未等同采用国际标准
最后同步校验时间
2026-10-01
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
DB35/T 1370-2013
废止
● 现行有效版本 (当前页面)
发光二极管芯片点测方法
正式发布：2013-12-04
实施施行：2014-03-01
🎯 同类及相似标准智能推荐矩阵
基于中国标准分类号(CCS)、国际标准分类号(ICS)及归口技术领域的深度关联推荐
GB/T 4023.4-2026
即将实施
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DB35/T 1611-2016
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半导体发光二极管测试方法
相同专业CCS分类分类号: L45
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