现行有效
行业标准
无
SJ/T 11393-2009
半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
正式发布日期
2009-11-17
正式实施日期
2010-01-01
中国标准分类号 (CCS)
L45
国际标准分类号 (ICS)
暂未分类
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部
归口技术委员会
中国电子技术标准化研究所
主要起草单位
信息产业部电子工业标准化研究院、北京新材料科技促进中心
主要起草人员
赵英、阮军
国际标准采标情况
自主编制，未等同采用国际标准
最后同步校验时间
2026-10-01
权威标准深度数字化解析
实验方法与设备物资资产库
标准深度技术解析与标准化生产储备
标准代号：SJ/T 11393-2009
联动知识图谱与储备库：
🔬 分析方法库
⚙️ 仪器条件库
🎯 检测成分库 (CAS/离子)
🧪 试剂标准品库 (CRM)
📦 耗材配件库
📋 样品基质库
1
修订条款
—按分规范的3.7规定的质量评定类别及如果要求时3.6中规定的筛选顺序；
核心起草科研机构与龙头企业矩阵：
工业和信息化部电子工业标准化研究所北京新材料科技促进中心
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
SJ/T 11393-2009
现行
● 现行有效版本 (当前页面)
半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
正式发布：2009-11-17
实施施行：2010-01-01
🎯 同类及相似标准智能推荐矩阵
基于中国标准分类号(CCS)、国际标准分类号(ICS)及归口技术领域的深度关联推荐
GB/T 4023.4-2026
即将实施
半导体分立器件 第4部分：微波二极管和晶体管
相同专业CCS分类分类号: L45
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现行
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相同专业CCS分类分类号: L45
匹配度 88%
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废止
发光二极管芯片点测方法
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匹配度 88%
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现行
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相同专业CCS分类分类号: L45
匹配度 88%
SJ/T 11394-2009
现行
半导体发光二极管测试方法
相同专业CCS分类分类号: L45
匹配度 88%