现行有效
行业标准
无
SJ/T 11767-2020
二极管低频噪声参数测试方法
正式发布日期
2020-12-09
正式实施日期
2021-04-01
中国标准分类号 (CCS)
L 41
国际标准分类号 (ICS)
31.080.01
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部
归口技术委员会
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
主要起草单位
工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
主要起草人员
余永涛、胡为、恩云飞 等
国际标准采标情况
自主编制,未等同采用国际标准
最后同步校验时间
2026-09-29
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
SJ/T 11767-2020
现行
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二极管低频噪声参数测试方法
正式发布:2020-12-09
实施施行:2021-04-01
🎯 同类及相似标准智能推荐矩阵
基于中国标准分类号(CCS)、国际标准分类号(ICS)及归口技术领域的深度关联推荐
SJ/T 12071-2025
现行
半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范
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SJ/T 12070-2025
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匹配度 88%
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现行
半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法
相同专业CCS分类分类号: L 41
匹配度 88%
SJ/T 11845.3-2022
现行
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分:二极管
相同专业CCS分类分类号: L 41
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DB52/T 861-2013
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相同专业CCS分类分类号: L 41
匹配度 88%
DB52/T 860-2013
废止
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相同专业CCS分类分类号: L 41
匹配度 88%
