现行有效
行业标准
无
SJ/T 11845.3-2022
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管
正式发布日期
2022-10-20
正式实施日期
2023-01-01
中国标准分类号 (CCS)
L 41
国际标准分类号 (ICS)
31.080.10
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部
归口技术委员会
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
主要起草单位
以正式出版纸质文本为准
主要起草人员
以正式出版纸质文本为准
国际标准采标情况
自主编制，未等同采用国际标准
最后同步校验时间
2026-10-01
权威标准深度数字化解析
实验方法与设备物资资产库
标准深度技术解析与标准化生产储备
标准代号：SJ/T 11845.3-2022
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.............................................................................. 1
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
SJ/T 11845.3-2022
现行
● 现行有效版本 (当前页面)
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管
正式发布：2022-10-20
实施施行：2023-01-01
🎯 同类及相似标准智能推荐矩阵
基于中国标准分类号(CCS)、国际标准分类号(ICS)及归口技术领域的深度关联推荐
SJ/T 11845.4-2026
即将实施
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第4部分：电阻器
同系列分部家族主干号: SJ/T 11845
匹配度 92%
SJ/T 11845.1-2022
现行
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1部分：通用要求
同系列分部家族主干号: SJ/T 11845
匹配度 92%
SJ/T 11845.2-2022
现行
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件
同系列分部家族主干号: SJ/T 11845
匹配度 92%
SJ/T 12071-2025
现行
半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范
相同专业CCS分类分类号: L 41
匹配度 88%
SJ/T 12070-2025
现行
半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法
相同专业CCS分类分类号: L 41
匹配度 88%
SJ/T 12069-2025
现行
半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法
相同专业CCS分类分类号: L 41
匹配度 88%