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即将正式实施提醒
该标准将于 2027-04-01 起正式施行，距离生效尚有 182 天。建议相关企业及实验室尽早开展标准宣贯与合规调整。
即将实施
国家标准
电子元器件与信息技术
GB/T 48216.2-2026
半导体器件 通用鉴定指南 第2部分：可靠性鉴定中任务剖面的概念
Semiconductor devices—Generic qualification guidelines—Part 2:Concept of mission profile in reliability qualification
正式发布日期
2026-09-28
正式实施日期
2027-04-01
中国标准分类号 (CCS)
L40
国际标准分类号 (ICS)
31.080.0131
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部（电子）
归口技术委员会
全国半导体器件标准化技术委员会
主要起草单位
之江实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所、国家市场监督管理总局认证认可技术研究中心、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市恒运昌真空技术股份有限公司、威凯检测技术有限公司、中科亿海微电子科技（苏州）有限公司、柔检（嘉兴）科技有限公司、深圳市美信检测技术股份有限公司、杭州傲芯科技有限公司、中国科学院半导体研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京航芯微电子科技有限公司、福州派利德电子科技有限公司、重庆平伟实业股份有限公司、中汽院（江苏）汽车工程研究院有限公司、山东阅芯电子科技有限公司、济南大学、南京泛铨电子科技有限公司、甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司、东风汽车集团股份有限公司、深圳基本半导体股份有限公司、上海贝岭股份有限公司、欣峰扬科技（苏州）有限公司。
主要起草人员
刘士圆、尹坤、王忠新、钟鑫、吴海文、彭浩、王之哲、迟雷、尹丽晶、李振廷、刘曦、陈永强、魏育成、何志峰、崔风洲、韩买兴、郑飞君、乐卫平、张旭、聂灿勋、杨晓锋、李彦鹏、王维思、谢名富、徐祝青、李述洲、朱帅帅、袁芳、朱阳军、逄金波、曾国翔、侯小刚、张凡武、和巍巍、白忠杰、李刚、吴靖。
国际标准采标情况
IEC 63287-2:2023 (MOD (修改采用))
最后同步校验时间
2026-10-01
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/T 48216.2-2026
即将实施
● 现行有效版本 (当前页面)
半导体器件 通用鉴定指南 第2部分：可靠性鉴定中任务剖面的概念
正式发布：2026-09-28
实施施行：2027-04-01
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