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【GB/T 48216.1-2026】半导体器件 通用鉴定指南 第1部分:集成电路可靠性鉴定指南
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即将正式实施提醒

该标准将于 2027-04-01 起正式施行,距离生效尚有 181 天。建议相关企业及实验室尽早开展标准宣贯与合规调整。

即将实施 国家标准 电子元器件与信息技术

GB/T 48216.1-2026

半导体器件 通用鉴定指南 第1部分:集成电路可靠性鉴定指南
Semiconductor devices—Generic qualification guidelines—Part 1:Guidelines for IC reliability qualification
🔬 标准体检与查新报告
正式发布日期
2026-09-28
正式实施日期
2027-04-01
中国标准分类号 (CCS)
L56
国际标准分类号 (ICS)
31.20031

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门 工业和信息化部(电子)
归口技术委员会 全国集成电路标准化技术委员会
主要起草单位 中电国基北方有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、中科亿海微电子科技(苏州)有限公司、深圳市赛元微电子股份有限公司、浙江宇谦半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市容微精密电子有限公司、深圳市恒运昌真空技术股份有限公司、广东高云半导体科技股份有限公司、广东全芯半导体有限公司、深圳通锐微电子技术有限公司、深圳市辰卓科技股份有限公司、广东风华芯电科技股份有限公司、西安航天民芯科技有限公司、浙江翠展微电子有限公司、长沙韶光半导体有限公司、迅芯微电子(苏州)股份有限公司、深圳市卓茂科技有限公司、深圳星火半导体科技有限公司、致真精密仪器(青岛)有限公司、湖南兴芯微电子科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、河北凯诺中星科技有限公司、乐健科技(珠海)有限公司、重庆云潼科技有限公司、福爱电子(贵州)有限公司、深圳芯珑电子技术有限公司、中山市智牛电子有限公司、深圳市科通技术股份有限公司、广东仁懋电子有限公司。
主要起草人员 张丽青、沈彤茜、司子恒、魏育成、韩买兴、邢巍、毕俊峰、董燕楠、张丽丽、席善斌、胡松祥、迟雷、赵燕、白文斌、陈浩祥、裴选、王伟、高若源、尹丽晶、章晓文、刘泽鑫、乐卫平、王添平、周添喜、张恒、许应、卢晓鹏、孙权、吴瑞、贺先要、吴旦昱、闻权、陈运松、王麟、张学莹、罗军、李剑新、齐筱、孙凤霞、孙继斌、廖光朝、张平、蒙占宇、廖志雄、刘振宇、仇亮。
国际标准采标情况 IEC 63287-1:2021 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间 2026-10-01

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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴

自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条

共 1 个代际版本
GB/T 48216.1-2026 即将实施
● 现行有效版本 (当前页面)
半导体器件 通用鉴定指南 第1部分:集成电路可靠性鉴定指南
正式发布:2026-09-28 实施施行:2027-04-01

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