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【T/CEATEC 287—2026】低轨卫星通信相控阵T/R芯片核心性能要求与测试方法
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T/CEATEC 287—2026

低轨卫星通信相控阵T/R芯片核心性能要求与测试方法
Low-Earth-Orbit satellite communication phased-array T/R chip core performance requirements and test methods
🔬 标准体检与查新报告
正式发布日期
2026-09-16
正式实施日期
2026-09-16
中国标准分类号 (CCS)
暂未分类
国际标准分类号 (ICS)
暂未分类

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门 中国欧洲经济技术合作协会
归口技术委员会 由主管部门直管或未单设
主要起草单位 浙江大学东海实验室北京原标科技有限公司北京芯智擎科技有限公司南京国博电子股份有限公司
主要起草人员 宋春毅徐志伟李娜雨胡凤霞李 鹏浦鈺钤
国际标准采标情况 自主编制,未等同采用国际标准
最后同步校验时间 2026-10-20

标准范围与核心技术摘要

本文件主要适用于我国Ku频段和Ka频段低轨卫星通信相控阵T/R芯片的设计验证、性能测试及质量评价。

🕸️ 知识图谱与标准拓扑关系网

深度涵盖:代际演变替代、同系列分部关联、归口技术委员会同门研制及国际对标

9 节点 11 连线

⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴

自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条

共 1 个代际版本
T/CEATEC 287—2026 现行
● 现行有效版本 (当前页面)
低轨卫星通信相控阵T/R芯片核心性能要求与测试方法
正式发布:2026-09-16 实施施行:2026-09-16

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