现行有效
国家标准
冶金与金属材料
GB/T 47080-2026
金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
Test method for dislocation density of diamond single crystal polished wafer
正式发布日期
2026-01-28
正式实施日期
2026-08-01
中国标准分类号 (CCS)
H17
国际标准分类号 (ICS)
77.04077
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
国家标准委
归口技术委员会
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主要起草单位
中国科学院半导体研究所、德州学院、成都中科米格检测技术有限公司、中国石油集团工程材料研究院有限公司、河南碳真芯材科技有限公司、吉林大学、安徽光智科技有限公司、山东大学、嘉兴沃尔德金刚石工具有限公司、北京大学东莞光电研究院、浙江先导微电子科技有限公司、北京特思迪半导体设备有限公司、宁波晶钻科技股份有限公司、河南省惠丰金刚石有限公司、哈工大郑州研究院、南京同溧晶体材料研究院有限公司、湖北碳六科技有限公司、南京瑞为新材料科技有限公司、成都市玖展科技有限公司、佳睿福钻石（河南）有限公司。
主要起草人员
霍晓迪、曹繁秋、郑红军、王希玮、闫方亮、王少龙、屈鹏霏、王镇、金鹏、李红东、朱嘉琦、欧琳芳、陈继锋、王琦、于金凤、蒋继乐、张娟涛、张军安、王志强、李一村、李东振、吕继磊、徐良伟、黄亮、冯参军、赵继文。
国际标准采标情况
自主编制，未等同采用国际标准
最后同步校验时间
2026-10-01
🕸️ 知识图谱与标准拓扑关系网
深度涵盖：代际演变替代、同系列分部关联、归口技术委员会同门研制及国际对标
8 节点
8 连线
🔒
知识图谱与拓扑关系需登录查看
深度涵盖代际演变替代、同系列分部关联、归口主管研制及国际对标。登录账号即可免费解锁完整力导向交互网络与节点穿梭。
8 实体节点
8 关联拓扑
免费注册 / 微信扫码一键登录
⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/T 47080-2026
现行
● 现行有效版本 (当前页面)
金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
正式发布：2026-01-28
实施施行：2026-08-01
🎯 同类及相似标准智能推荐矩阵
基于中国标准分类号(CCS)、国际标准分类号(ICS)及归口技术领域的深度关联推荐
YS/T 1864-2026
即将实施
流化床法颗粒硅表面金属含量的测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
相同专业CCS分类分类号: H17
匹配度 88%
YS/T 1863.2-2026
即将实施
硅多晶用硅粉理化性能的测定 第 2 部分： 浊度的测定 散射光法
相同专业CCS分类分类号: H17
匹配度 88%
YS/T 1863.1-2026
即将实施
硅多晶用硅粉理化性能的测定 第 1 部分：有效硅含量的测定 重量法
相同专业CCS分类分类号: H17
匹配度 88%
GB/T 47081-2026
现行
氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
相同专业CCS分类分类号: H17
匹配度 88%
GB/T 47082-2026
现行
碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法
相同专业CCS分类分类号: H17
匹配度 88%
GB/T 47089-2026
现行
蓝宝石图形化衬底表面图形几何参数的测定方法
相同专业CCS分类分类号: H17
匹配度 88%