现行有效
国家标准
电子元器件与信息技术
GB/T 47239.9-2026
半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
正式发布日期
2026-02-27
正式实施日期
2026-09-01
中国标准分类号 (CCS)
L55
国际标准分类号 (ICS)
31.080.9931
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部（电子）
归口技术委员会
全国半导体器件标准化技术委员会
主要起草单位
上海复旦微电子集团股份有限公司、之江实验室、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所。
主要起草人员
沈磊、孙建军、俞剑、刘山佳、时拓、周睿晰、刘津畅、王明、崔波、陈海蓉、张丽静。
国际标准采标情况
IEC 62951-9:2022 (MOD (修改采用))
最后同步校验时间
2026-09-30
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/T 47239.9-2026
现行
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半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法
正式发布：2026-02-27
实施施行：2026-09-01
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GB/T 47239.3-2026
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现行
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复合特征契合 [半导体器]领域主题契合 [半导]
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复合特征契合 [半导体器]领域主题契合 [半导]
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复合特征契合 [半导体器]领域主题契合 [半导]
匹配度 130%