⚠️
标准已废止或失效
该标准经主管部门通报已作废或停止执行，请核实最新标准代号以确保合规。
已废止/被代替
地方标准
无
DB13/T 5695-2023
GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法
正式发布日期
2023-05-06
正式实施日期
2023-06-06
中国标准分类号 (CCS)
L 40
国际标准分类号 (ICS)
31.08
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
河北省市场监督管理局
归口技术委员会
由主管部门直管或未单设
主要起草单位
-
主要起草人员
-
国际标准采标情况
自主编制，未等同采用国际标准
最后同步校验时间
2026-09-30
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
DB13/T 5695-2023
废止
● 现行有效版本 (当前页面)
GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法
正式发布：2023-05-06
实施施行：2023-06-06
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