现行有效
国家标准
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GB/T 17857-1999
医用放射学术语(放射治疗、核医学和辐射剂量学设备)
Medical radiology. Terminology (Equipment for radiotherapy,nuclea...
正式发布日期
官方未列示
正式实施日期
2000-01-01
中国标准分类号 (CCS)
暂未分类
国际标准分类号 (ICS)
暂未分类
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
国家标准化管理委员会 / 国家市场监督管理总局
归口技术委员会
由主管部门直管或未单设
主要起草单位
中国测试技术研究院四川大学华西医院参与起草单位:北京市计量检测科学研究院苏州疾病预防控制中心喀什地区计量检定所本规范委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释本规范主要起草人:林滔 (中国测试技术研究院)王博 (四川大学华西医院)苏婕 (中国测试技术研究院)参与起草人:罗琛 (北京市计量检测科学研究院)许哲 (苏州疾病预防控制中心)郑岩 (喀什地区计量检定所)杨波 (中国测试技术研究院)目录引言II1 范围12 引用文献13术语和计量单位13.1 术语13.2计量单位24 概述25计量特性36 校准条件36.1环境条件36.2标准器及其他设备37 校准项目和校准方法57.1校准项目57.2校准方法68 校准结果表达79 复校时间间隔7附录A 辐射质和(反散射修正因子)推荐值8附录B辐射质(HVL)与的关系9附录C校准原始记录参考格式10附录D 校准证书内页信息及格式13附录E 测量不确定度评定示例............................................................15引言浅层X射线治疗系统是用于治疗皮肤和身体浅表病变的X射线装置、其管电压范围40kV~100kV
主要起草人员
以正式出版纸质文本为准
国际标准采标情况
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最后同步校验时间
2026-09-25
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标准版本:GB/T 17857-1999
1
重要变更
1 术语1 3.2计量单位2 4 概述2 5计量特性3 6 校准条件3 6.1环境条件3 6.2标准器及其他设备3 7 校准项目和校准方法5 7.1校准项目5 7.2校准方法6 8 校准结果表达7 9 复校时间间隔7 附录A 辐射质和(反散射修正因子)推荐值8 附录B辐射质(HVL)与的关系9 附录C校准原始记录参考格式10 附录D 校准证书内页信息及格式13 附录E 测量不确定度评定示例............................................................15 引言浅层X射线治疗系统是用于治疗皮肤和身体浅表病变的X射线装置,其管电压范围40kV~100kV。 浅层X射线放射治疗系统的通用要求、计量性能、校准方法主要参照IAEA第277号技术报告(1997年第二版)《光子和电子束的吸收剂量测定,国际使用规定》、GB/T 17857-1999《医用放射学术语(放射治疗、核医学和辐射剂量学设备)》、GBZ 131-2017 《医用X射线治疗放射防护要求》、JJG 1053-2009《60kV~300kV X射线治疗辐射源检定规程》;不确定度主要依据JJF 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》、JJG 1053-2009《60kV~300kV X射线治疗辐射源》和IAEA TRS-398 《Absorbed Dose Determination in External Beam Radiotherapy》进行评估。 本校准规范为首次制定。 浅层X射线放射治疗系统校准规范 1 范围本校准规范适用于40kV~100kV浅层X射线治疗辐射源的计量校准。 2 引用文献本规范引用下列文件: JJG 1053-2009《60kV~300kV X射线治疗辐射源检定规程》 JJF 2017-2022 《 (20~150)kV X射线束半值层仪校准规范》 GB/T 17857-1999《医用放射学术语(放射治疗、核医学和辐射剂量学设备)》 GBZ 131-2017 《医用X射线治疗放射防护要求》 IAEA第277号技术报告(1997年第二版)《光子和电子束的吸收剂量测定,国际使用规定》 AAPM protocol for (40~300)kV x-ray beam dosimetry in radiotherapy and radiobiology;2001 American Association of Physicists in Medicine. DOI: 10.1118/1.1374247 凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。 3术语和计量单位 3.1 术语 3.1.1浅层X射线治疗superficial X-ray therapy 用100kV以下的X射线管电压产生的X辐射进行的放射治疗。 3.1.2半值层 half-value layer 将单向粒子流的辐射量减少到初始值一半时的减弱层厚度,符号为HVL。 3.1.3源皮距(SSD) source surface distance 沿辐射束轴测量的辐射源与被辐照患者皮肤表面之间的距离。 3.1.4电离室参考点 reference point 电离室中的一点,在校准电离室时,使其符合于在规定的约定真值之上的点。 3.2计量单位 3.2.1空气比释动能 air kerma 符号为K,单位名称是戈[瑞],单位符号是Gy。 3.2.2吸收剂量 absorbed dose 符号是D,单位名称是戈[瑞],单位符号是Gy,1Gy=1J/kg。 4 概述浅层X射线治疗辐射源指产生并控制X射线用于对人体浅表组织放射治疗的设备,通过对患者皮肤表面照射,达到破坏、抑制或转化纤维母细胞并使血管闭塞,控制过量的疤痕组织增生的目的。 浅层X射线治疗辐射源主要由操作控制台和主机两部分构成,操作控制台用于照射条件设置、剂量监控和运行状态的控制;主机主要由X射线球管组件、高压发生器、X射线管冷却系统等组成。 5计量特性 5.1吸收剂量示值误差在正常治疗距离处,电离室参考点测量的吸收剂量与辐射源输出的吸收剂量示值相对偏差不超过±3%。 5.2剂量重复性剂量输出重复性不超过5%。 5.3剂量非线性剂量输出非线性不超过5%。 5.4辐射质辐射质用半值层(HVL)表示,用铝的厚度表示;在各种X射线管电压和附加过滤组成的条件下,半值层校准结果与标称值的偏差应不超过标称值的±10%。 6 校准条件 6.1环境条件校准实验室的环境条件应符合表1的要求。 表 1 实验室环境条件的要求环境参量要求环境温度 15°C~35°C 相对湿度 ≤80%RH 大气压力 80kPa~110kPa 6.2标准器及其他设备 6.2.1电离室剂量计必须是薄入射窗的平行板电离室,校准因子不确定度≤2%,X射线能量响应≤4%,年稳定性≤±1%;其中平行板电离室的具体要求如下表2: 表 2 电离室要求电离室形状电离室容积平行板电离室 (0.02~0.8)cm3 6.2.2半值层用铝片吸收铝片纯度≥99.9%,吸收铝片厚度±0.05mm或±1%。 6.2.3温度计测量范围0°C~50°C,最小分度值不大于0.5°C;均须经过计量溯源。 6.2.4气压计测量范围86kPa~106 kPa,最小分度值不大于0.1kPa;均须经过计量溯源。 7 校准项目和校准方法 7.1校准项目外观检查、吸收剂量示值误差、辐射质偏差、吸收剂量重复性、吸收剂量线性为校准项目。 7.2校准方法 7.2.1外观检查外观应完好无损,附件应配套齐全;型号、编号、制造商等必要的标记应清晰可辨。 7.2.2吸收剂量示值误差选用临床常用的剂量(率),每个点至少重复测量三次,取其平均值,用相对误差表示吸收剂量示值误差: ............(1) 式中: D--控制台上剂量的显示值; --吸收剂量的实际值; --吸收剂量的示值误差。 7.2.2.1电离室在模体中采用水吸收剂量校准测量吸收剂量电离室置于固态水模体中心,其入射窗与模体前表面在同一平面;电离室参考点为前表面中心点,校准时SSD取正常治疗距离(一般为 15 cm),电离室前表面与射束轴垂直、参考点与射野中心重合。 吸收剂量的计算: . ........ ........ (2) 式中: --剂量计3次平均读数; --电离室的水吸收校准因子; -- 温度气压修正因子; 7.2.2.2电离室在空气中采用空气比释动能校准测量吸收剂量校准时SSD取正常治疗距离(一般为 15 cm),电离室前表面与射束轴垂直、参考点位于束射筒端面并与射野中心重合。 吸收剂量的计算: ..... .....(3) 式中: --剂量计的读数; --电离室的空气比释动能校准因子; --反散射修正因子,其数值由附录A表A.1查出; --水的平均质量吸收系数与空气平均质量吸收系数之比,其数值见附录B表B.1查出; -- 温度气压修正因子,计算公式: ..... .....(4) 7.2.3吸收剂量重复性按7.2.2条件,在额定X射线管电压条件下测量累积剂量达到0.2满刻度的读数。重复测量6次,计算6次测量的平均值,并按(5)式计算吸收剂量重复性 .............(5) 式中: --吸收剂量重复性; --6次测量的平均数; --每次的测量值。 7.2.4吸收剂量线性按7.2.2条件,在额定X射线管电压条件下,分别测量累计剂量达到0.2、0.05满刻度两组数据,每组重复测量3次,计算平均值、;在X射线管电压“较低值”(即50%额定值或规定的最低值,取二者较高者)时,分别测量累计剂量达到0.2、0.05满刻度两组数据,每组重复测量3次,每组重复测量3次,分别计算得到平均值和。 按照(5),(6)计算剂量输出的非线性和,取较大者。........(6) ...........(7) 式中: ---剂量输出的非线性; ---剂量测量平均值; ---控制台上剂量的显示值。 7.2.5辐射质偏差图1 检测辐射输出的质示意图 1、X射线辐射源;2、X射线束;3、吸收片;4、电离室测量时,选定参考限束筒,将吸收片处的射野直径限制在4cm以内。将X射线管电压调至治疗常用管电压,选一合适的mAs;电离室到吸收片和吸收片到X射线管焦点的距离分别为50cm和50cm。测量未加吸收片和通过不同厚度吸收片时的吸收剂量。用作图法或者计算法求出吸收剂量降到初始值(无吸收片)一半时的厚度,即为辐射输出的质。 辐射质的偏差式中: ——半值层的测量值; ——半值层的标称值。 8 校准结果表达经校准的辐射源出具校准证书,校准证书应至少包括以下信息: 标题,如“校准证书”; 实验室名称和地址; 进行校准的地点(如果与实验室的地址不同); 证书的唯一性标识(如证书编号),每页及总页数的标识; 客户的名称和地址; 被校对象的描述和明确标识; 进行校准的日期,如果与校准结果的有效性和应用有关时,应说明被校对象的接收日期; 如果与校准结果的有效性应用有关时,应对被校样品的抽样程序进行说明; 校准所依据的技术规范的标识,包括名称及代号; 本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明; 校准环境的描述; 校准结果及其测量不确定度的说明; 校准证书或校准报告签发人的签名、职务或等效标识; 未经实验室书面批准,不得部分复制证书的声明。 9 复校时间间隔用户根据使用情况自行确定复校时间间隔,建议一般不超过12个月。 附录A 表A.1辐射质(HVL)和(反散射修正因子)推荐值反散射修正因子,SSD是源皮距,d是射野直径,HVL是射线辐射质附录B 表B.1 辐射质(HVL)与的关系 HVL (mm Al) 0.03 1.047 0.04 1.047 0.05 1.046 0.06 1.046 0.08 1.044 0.10 1.044 0.12 1.043 0.15 1.041 0.2 1.039 0.3 1.035 0.4 1.031 0.5 1.028 0.6 1.026 0.8 1.022 1.0 1.020 1.2 1.018 1.5 1.017 2.0 1.018 3.0 1.021 4.0 1.025 5.0 1.029 6.0 1.034 8.0 1.045 水的平均质量吸收系数与空气平均质量吸收系数之比附录C 校准原始记录推荐格式校准原始记录推荐格式校准证书号: 校准日期: 年月日证书单位: 地址:样品名称: 生产厂家: 样品型号: 样品编号: 探测器型号: 探测器编号:校准依据: 校准地点:1校准用主要计量标准器具器具名称型号规格编号测量范
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