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【YS/T 229.4-2013】高纯铅化学分析方法 第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
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现行有效 行业标准 无

YS/T 229.4-2013

高纯铅化学分析方法 第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
🔬 标准体检与查新报告
正式发布日期
2013-10-17
正式实施日期
2014-03-01
中国标准分类号 (CCS)
H13
国际标准分类号 (ICS)
77.120.60

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门 工业和信息化部
归口技术委员会 全国有色金属标准化技术委员会
主要起草单位 东方电气集团峨嵋半导体材料研究所、北京有色金属研究总院等
主要起草人员 王攀峰、文英 等
国际标准采标情况 自主编制,未等同采用国际标准
最后同步校验时间 2026-09-30
权威标准深度数字化解析 实验方法与设备物资资产库

标准深度技术解析与标准化生产储备

标准代号:YS/T 229.4-2013
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方法精密度与加标回收率指标 (Precision & Recovery Metrics)

实验室质控
精密度满足表2 所列允许相对偏差的要求时, 取其平均值作为测量结果。被测元素的含量以质量分数计,计算机直接给出计算结果。 7 分析结果的计算被测元素含量以质量分数wx计,以µg/kg 表示,按公式(1)计算: ) (1 ) ( ) / ( Pb X Pb Pb X Pb X x w A I A I RSF w 式中: YS/T xxxx-201x 5 wx ——待测杂质元素质量分数,µg/kg; RSF(x/Pd)——为在特定辉光放电条件下测定Pd 中X 元素的相对灵敏度因子; Ix和IPd——分别为待测元素X 和Pd 元素的同位素谱峰强度, cps; Ax和APd——分别为待测元素X 和Pd 元素的同位素丰度; wPd——Pd 的质量分数定义为1.00×

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共 1 个代际版本
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高纯铅化学分析方法 第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
正式发布:2013-10-17 实施施行:2014-03-01

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