现行有效
行业标准
制造业
YS/T 1768-2025
硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法
正式发布日期
2025-04-10
正式实施日期
2025-11-01
中国标准分类号 (CCS)
H17
国际标准分类号 (ICS)
77.04
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部
归口技术委员会
全国有色金属标准化技术委员会
主要起草单位
以正式出版纸质文本为准
主要起草人员
以正式出版纸质文本为准
国际标准采标情况
自主编制，未等同采用国际标准
最后同步校验时间
2026-09-29
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
YS/T 1768-2025
现行
● 现行有效版本 (当前页面)
硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法
正式发布：2025-04-10
实施施行：2025-11-01
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现行
氮化镓化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
同核心产品/对象 [谱法]同归口技术委员会 (全国有色金属标准化技术委员会)
匹配度 123%
YS/T 1755-2025
现行
颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
同核心产品/对象 [谱法]同归口技术委员会 (全国有色金属标准化技术委员会)
匹配度 108%
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匹配度 103%
YS/T 1462.7-2026
即将实施
粗锡化学分析方法 第7部分：铜、铁、铋、铅、锑、铟、砷、镉、镍和钴含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
同核心产品/对象 [谱法]同归口技术委员会 (全国有色金属标准化技术委员会)
匹配度 103%