现行有效
国家标准
电工电气
GB/Z 119-2026
晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测
C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test—Detection
正式发布日期
2026-01-04
正式实施日期
2026-01-04
中国标准分类号 (CCS)
K83
国际标准分类号 (ICS)
27.16027
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部（电子）
归口技术委员会
全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会
主要起草单位
常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司。
主要起草人员
许涛、庄天奇、葛华云、黄婷、李振国、裴会川、郭素琴、冯春暖、刘亚锋、徐敏伟、陈磊。
国际标准采标情况
IEC TS 63342:2022 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间
2026-10-01
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/Z 119-2026
现行
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晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测
正式发布：2026-01-04
实施施行：2026-01-04
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