现行有效
国家标准
电子元器件与信息技术
GB/T 42968.9-2025
集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 9: Measurement of radiated immunity—Surface scan method
正式发布日期
2025-12-02
正式实施日期
2025-12-02
中国标准分类号 (CCS)
L56
国际标准分类号 (ICS)
31.20031
📑 标准核心属性与编制信息
主管部门 / 发布部门
工业和信息化部（电子）
归口技术委员会
全国集成电路标准化技术委员会
主要起草单位
中国电子技术标准化研究院、扬芯科技（深圳）有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、上海电器设备检测所有限公司、厦门市产品质量监督检验院、华东师范大学、中国家用电器研究院、北京航空航天大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中国计量大学、中国合格评定国家认可中心、深圳市恒创技术有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、中山大学、北京高搏电磁兼容技术有限公司、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、中家院（北京）检测认证有限公司、上海机动车检测认证技术研究中心有限公司、重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司。
主要起草人员
付君、程江河、陈梅双、崔强、杨红波、吴建飞、方文啸、孙云龙、李焕然、邵鄂、梁吉明、邢琳、廉鹏飞、亓新、张艳艳、阎照文、李齐、李燕、刘佳、杨志奇、谭泽强、高新杰、李博、弓兆博、王晓迪、伍强。
国际标准采标情况
IEC TS 62132-9:2014 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间
2026-10-01
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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴
自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条
GB/T 42968.9-2025
现行
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集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法
正式发布：2025-12-02
实施施行：2025-12-02
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相同专业CCS分类分类号: L56
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