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【GB/Z 34954.2-2026】航空电子过程管理 电子器件使用性能 第2部分:半导体集成电路寿命
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现行有效 国家标准 航空与航天技术

GB/Z 34954.2-2026

航空电子过程管理 电子器件使用性能 第2部分:半导体集成电路寿命
Process management for avionics—Electronic components capability in operation—Part 2:Semiconductor microcircuit lifetime
🔬 标准体检与查新报告
正式发布日期
2026-07-02
正式实施日期
2026-07-02
中国标准分类号 (CCS)
V25
国际标准分类号 (ICS)
49.02549

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门 国家标准委
归口技术委员会 全国航空电子过程管理标准化技术委员会
主要起草单位 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所、哈尔滨工程大学、阿罗斯信息技术(苏州)有限公司、哈尔滨工业大学、中国航空综合技术研究所、工业和信息化部电子第五研究所、中航西安飞机工业集团股份有限公司、太原航空仪表有限公司、电子科技大学。
主要起草人员 刘站平、刘平安、陈启明、任海涛、何骁、陈选龙、喻玺文、冯小玉、朱荣刚、王元元、刘刚、杜文杰、王莉、叶艳娟、任烨、刘芸、孟恩丞、王昊。
国际标准采标情况 IEC TR 62240-2:2018 (IDT (等同采用))
最后同步校验时间 2026-10-01

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GB/Z 34954.2-2026 现行
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航空电子过程管理 电子器件使用性能 第2部分:半导体集成电路寿命
正式发布:2026-07-02 实施施行:2026-07-02

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