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【GB/T 46567.1-2025《智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性》标准解读】智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性
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现行有效 国家标准 综合与基础

GB/T 46567.1-2025《智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性》标准解读

智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性
Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1:Basic characteristics
🔬 标准体检与查新报告
正式发布日期
官方未列示
正式实施日期
2025-10-31
中国标准分类号 (CCS)
方法
国际标准分类号 (ICS)
L40

📑 标准核心属性与编制信息

主管部门 / 发布部门 全国智能计算标准化工作组
归口技术委员会 31.080.9931 电子学31.080 半导体分立器件31.080.99 其他半导体分立器件
主要起草单位 之江实验室、浙江大学、上海复旦微电子集团股份有限公司、中移(杭州)信息技术有限公司、中国计量大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院微电子研究所、河北大学、东北师范大学、国防科技大学、中国信息通信研究院、浪潮电子信息产业股份有限公司、华中科技大学、太原理工大学、宁波时识科技有限公司、中国科学院半导体研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、山西太行实验室有限公司、天翼云科技有限公司、浙江大华技术股份有限公司、北京京瀚禹电子工程技术有限公司、北京万界数据科技有限责任公司、超聚变数字技术有限公司、北京云之印科技有限公司、浙江省物联网产业协会、中国通信工业协会。
主要起草人员 时拓、王忠新、刘津畅、何水兵、李磊、刘山佳、王明、钟鑫、施阁、吴逊、许晓欣、闫小兵、王中强、李莹、黄伟、王义楠、张丽静、王斌强、李祎、刘琦、孙文绚、徐海阳、杨彪、张乾、李清江、张九六、张宏巍、杨明、黄旭辉、武晨希、于双铭、孔维生、李鹏飞、黄唯静、王小鹏、黄涛、刘海连、罗联上、陈永祥。
国际标准采标情况 自主编制,未等同采用国际标准
最后同步校验时间 2026-10-01

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⏳ 标准代际更迭与生命周期时间轴

自立项制定发布以来的历次版本替代演进历史链条

共 1 个代际版本
GB/T 46567.1-2025《智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性》标准解读 现行
● 现行有效版本 (当前页面)
智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性
正式发布:未列明 实施施行:2025-10-31

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